反射式高能电子衍射(RHEED)的特点及原位实时监测薄膜生长的原理

反射式高能电子衍射(Reflection high energy electron diffraction,简称RHEED)

RHEED的特点及原位实时监测薄膜生长的原理:

反射式高能电子衍射(RHEED)是一种原位(In-situ)监测薄膜生长结构的有效.工具。在镀膜工艺中,它通常安装在MBE系统上,用于薄膜结构的原位监测,RHEED的应用较大地提高了MBE镀膜条件的研究效率。

RHEED可用于监测薄膜生长((即使是亚单原子层)。通过RHEED 图案特征,可以分析基底的表面再构、基底或薄膜表面的晶体结构。通过衍射强度的变化,可分析薄膜表面粗糙度,从而监测薄膜生长进度。

与低能电子衍射(Low energy electron diffraction,LEED)和透射电子衍射(Trhaismissionhigh energy electron diffraction,THEED)相区别,它具有很高的电子能量(10~100keV),电子与薄膜表面的反应具有反射特性。其原理如图所示,10~100keV的高能量电子以较小的角度(通常为1~3°)入射样品表面,即电子束以几乎平行于样品表面的方向入射,发生样品晶面的衍射后,在另一侧的屏幕上可检测到电子衍射信号,通过此信号可实时监测薄膜的生长结构与状况。由于在RHEED实验中,电子束以几乎平行于样品的方向入射,因此电子束仅仅透入薄膜表面儿个原子层厚度,这正好使得RHEED成为晶体表面结构分析的强有力.工具。

电子衍射同样可以用爱瓦尔德的倒易理论进行分析,衍射倒易理论认为,当爱瓦尔德衍射球与倒易晶格点相交时,衍射就会发生。一般来说,由衍射图案可直接判定生长的薄膜是否为单晶。如果高能电子衍射发生在具有绝对完美结构的单晶体(Single crystalline)表面,三维的倒易晶格点将表现为无限的平行棒束,实际上由于热振动和晶格的不完整性,通常表现为有限的平行棒束( Streaky feature),如图 (b)。若衍射发生在平滑的多晶体(Polycrystalline)表面,其衍射图案为环状。如果衍射发生在不够平滑的晶体表面,将会形成点状图案(Spotty feature),如图 (c)。而如果高能电子入射非晶结构表面,由于不存在规则的衍射晶面,不会得到任何衍射图案,只是背底而已。由于反射球半径很大,和球面相交的除(00)杆外还有(01),(01)杆,甚至(02),(02〉杆,这些杆形成相应的衍射条纹。

反射式高能电子衍射(RHEED)的特点及原位实时监测薄膜生长的原理

供应产品目录:

二硒化铌NbSe2复合薄膜

二硫化钒VS2薄膜

氮化碳(CNx)薄膜

高氮含量氮化碳(C3N4)薄膜

射频磁控溅射沉积氮化碳(CNx)薄膜

氮化碳(CNx/TiN)复合薄膜

磷掺杂的石墨相氮化碳(CNx)薄膜

硒化锗GeSe薄膜

二元化合物硒化亚锗(GeSe)薄膜

高质量纯相GeSe多晶薄膜

Ge-In-Se硫系薄膜 锗-铟-硒薄膜

新型硒化锗GeSe无机薄膜

硫化锗GeS薄膜

硫化锗-硫化稼-硫化镉非晶薄膜

Li3PO4/GeS2复合固体电解质薄膜

锗复合磷酸锂固体电解质薄膜

硫化锗玻璃薄膜

硒化镓GaSe薄膜

硫化镓GaS薄膜

碘化铬CrI3薄膜

交叉状碘化氧铋纳米片薄膜

p型碘化亚铜CuI薄膜

CH3NH3PbI3多晶薄膜

玻璃纤维布负载碘氧化铋光催化薄膜

半導體碘化鉛薄膜

鈣鈦礦薄膜

二硫化钛TiS2薄膜

二维纳米二硫化钛TiS2薄膜

二硒化钛TiSe2薄膜

CulnSe2薄膜

CuMSe2(M=In,Ga,Ti)薄膜

Cu(In,Ga)Se2薄膜

二硒銅銦(鋁)薄膜

铟锗碲In2Ge2Te6薄膜

锗锑碲非晶薄膜

基于锗锑碲与IV族碲化物交替堆垛的多层相变薄膜

二硫化铼(ReS2)薄膜

大面积二维的二硫化铼(ReS2)薄膜

二硫化铼(ReS2)纳米片阵列薄膜

二硒化铼ReSe2薄膜

二硒化硒SnSe2薄膜

硒化后CZTSSe薄膜

二维SnSe和SnSe2薄膜

銅鋅錫硒(Cu2ZnSnSe4)薄膜

二硒化銅銦薄膜

硒化亚锡(SnSe)薄膜

铜锌锡硒Cu_2ZnSnSe_4(CZTSe)薄膜

Ag掺杂SnSe半导体薄膜

二硒化钯PdSe2薄膜

二硒化钯二维晶态薄膜

二碲化钯 PdTe2薄膜

内嵌高密度钯纳米晶的介质薄膜

钯/铂纳米薄膜

钯(Ⅱ)-锌卟啉-二氧化钛三元复合配位聚合物薄膜

单质钯薄膜/钯复合多层薄膜

钯纳米薄膜

负载钯多层复合薄膜

三碲化锆 ZrTe2薄膜

锆掺杂二氧化铪基纳米薄膜

高质量Pb(Zr0.2Ti0.8)O3薄膜

Pb(Zr,Ti)O3薄膜

二维MoTe2薄膜

Cd1-xZnxTe多晶薄膜

二氧化锆ZrO2薄膜

二硒化钽TaSe2薄膜

二硫化钽TaS2薄膜

钽掺杂二氧化钛TiO2薄膜

二硫化钼/二硫化钨多层掺钽薄膜

纳米结构316L不锈钢基掺钽TiO_2薄膜

三硫化二铟(In2S3)薄膜

多孔三硫化二铟(In2S3)薄膜

硫化二铟(In2S3)缓冲层纳米晶薄膜

具有纳米网状结构的硫化铟纳米晶阵列薄膜

碱式硝酸铜薄膜

均匀致密的In2S3/Cu2(OH)3(NO3)复合薄膜

yyp2021.3.29

溅射法制备薄膜的原理、优缺点

薄膜制备溅射法

溅射现象源于阴极表面的气体辉光放电。溅射料呈板材作为阴极,基片置于阳极附近,高真空状态下放入工作气体(一般为氩气),在处于1-0.1Pa的低.工作气压中,在两极上施加0.1-10kV的电压,使工作气体原子电离成等离子体,从而产生具有高离子浓度的辉光放电区,等离子体中的正离子在电场作用下轰击阴极的靶材,与靶表面原子和原子团交换能量,使之飞溅出来,沉积到基片表面形成薄膜,故称此镀膜方法为溅射法。下图为溅射原理图。

溅射法制备薄膜的原理、优缺点

溅射几乎可以用来沉积任何固体材料的薄膜,所得膜层致密、纯度高、与基片附着牢固。溅射方法种类繁较多,有直流磁控溅射法、射频溅射法、离子束溅射法等。在比较低的气压下,从离子源区处的瓴离子以一定角度对靶材进行轰击,由于轰击粒子的能P大约为 1KeV,对靶材的穿透深度可忽略不计,级联碰撞只发生在靶材儿个原子厚度的表面层中,大量的原乎逃离靶材表面,成为溅射离子,其具有的能量大约为10eV的数量级。由于真空室内具有比较少的背景气体分子,溅射离子的自由程很大,这些粒子以直线轨迹到达基板并沉积在上面形成薄膜。由于大多数溅射粒子具有的能量只能渗入并使薄膜致密,而没有足够的能量使其它粒子移位,造成薄膜的破坏,同时由于低的背景气压,薄膜的污染也很低:而且,冷的基板也阻止了由热激发导致品粒的生长在薄膜内的扩散。因此,在基板上可以获得致密的无定形膜层。在成膜过程中,特别是那些能量高丁10eV的溅射粒子,能够渗入儿个原子址级的膜层从而提高了薄膜的附着力,并且再高低折射率层之间形成了很小梯度的过渡层。有的轰击粒子从靶材获得了电子而成为中性粒子或多或少的被弹性反射,然后,他们以几百电子伏的能量撞击薄膜,高能中性粒子的微量喷射可以进一-步使薄膜致密也增强了薄膜的内应力。

溅射法的主要优点是.工艺比较成熟,能够以较低的成本制备实用的大面积薄膜,沉积温度较低,可以在氧气气氛中使用金属或者合金靶材通过反应溅射获得所需要的薄膜。但这种方法的缺点是沉积膜速率较慢,在溅射过程中各组分的挥发性差别很大,膜的成分和靶材的成分有较大偏差,结构的均匀性比较难以控制。

供应产品目录:

铜铟镓硒(Cu(In,Ga)Se_2,简写GIGS)薄膜

大面积铜铟镓硒(GIGS)薄膜

磷化镓GaP薄膜

柔性铜铟镓硒(CIGS)薄膜

硫化锌(ZnS)缓冲层薄膜

镓硫碲GaSTe薄膜

基于锗镓碲硫卤玻璃薄膜

ZnS1-x Tex薄膜

碲基硫属化合物薄膜

二硫化铪HfS2薄膜

二硒化铪HfSe2纳米薄膜

二氧化铪图案化薄膜

具有V型能带结构的锑硫硒薄膜

二氧化铪(HfO2)纳米晶态薄膜

花菁染料薄膜

碲化镉(CdTe)多晶薄膜

纳米厚度的铌基超导超薄薄膜

掺杂铌和钴元素的锆钛酸铅(PZT)薄膜

碲化铷薄膜

二碲化镍NiTe2薄膜

连续半导体薄膜

二硒化铂PtSe2薄膜

大面积的二维PtSe2薄膜

TiO2/Pt/TiO2, TiO2/TiO2/Pt和Pt/TiO2/TiO2薄膜

高迁移率层状硒氧化铋Bi2O2Se半导体薄膜

碲氧溅射薄膜

碲纳米线柔性薄膜

三硫化二锡Sn2S3薄膜

铜锌锡硫和硫化亚锡(CZTS和SnS)薄膜

銅錫鋅硒硫Cu2ZnSn(SSe)4薄膜

硫硒化镉和硫硒化锌修饰的二氧化钛薄膜

纳米二氧化钒(VO2)薄膜

半导体硫(硒)化锌-锰薄膜

无扩散阻挡层Cu-Ni-Sn三元薄膜

三元鎳磷鋁合金薄膜

钨掺杂的硫硒化镍薄膜

固溶体半导体碲硫锌多晶薄膜ZnS1-x Tex

Zn(S,O)多晶薄膜

锌基底表面超疏水薄膜

Zr-Al复合薄膜

大面积二硫化锆薄膜

BaZrS3薄膜

碲化锰MnTe薄膜

碲化镍NiTe薄膜

Cr掺杂ZnS的中间带薄膜

铜钴锡硫(硒)(CCTS(Se))薄膜

氧化石墨烯/硝酸银复合薄膜

氧化石墨烯/PDDA薄膜

硫化砷AS2S3薄膜

硫化砷非晶态半导体薄膜

硫化砷玻璃薄膜

低温生长富砷的镓砷锑薄膜

As掺杂碲镉汞薄膜

锗砷硒半导体薄膜

三硒化二铋Bi2Se3薄膜

Sb2Te3薄膜

三碲化二铋Bi2Te3薄膜

晶界调控n型碲化铋薄膜

碲化铋取向纳米柱状薄膜

碲化铋纳米薄膜

碲化铋(Bi2Te3)化合物热电薄膜

碲化镉硅基薄膜

锰铋稀土(MnBiRE)磁光薄膜

二硫化銅銦薄膜

二硫化钨固体润滑薄膜

二硫化铼(ReS2)薄膜

二维二硫化钨薄膜

二碲化钛(TiTe2)过渡金属二硫化物薄膜

二维碲化铂纳米薄膜

二硒化銅銦(CuInSe2,CIS )薄膜

CIGSeS/CIGSe复合薄膜

大尺寸单层硒分区掺杂二硫化钨薄膜

铜铟镓硒/硫/硒硫薄膜

具有光引出层的柔性气密性薄膜

锆钛酸铅(Pb(Zn0.53Ti0.47)O3,简写为PZT)薄膜

鋯鈦酸鉛 (PbZr0.5Ti0.5O3) 薄膜

強介電 Pb(Zr, Ti)O3 薄膜

强诱电体/高取向度PZT铁电薄膜

Bi2-xSbxTe3基热电薄膜

MOCVD-Pb(Zr,Ti)O_3薄膜

Pb(Zr,Ti)O3–CoFe2O4纳米复合薄膜

多铁性磁电复合薄膜

聚酰亚胺/纳米Al2O3复合薄膜

金刚石薄膜

直流磁控溅射ZnO薄膜

WO3-TiO2薄膜

超疏水多孔阵列碳纳米管薄膜

仿生超疏水性薄膜

掺锡TiO2复合薄膜

TiO2-SiO2超亲水性薄膜

金属离子掺杂的TiO2薄膜

纳米碳纤维膜/钴酸锂三维同轴复合膜

含氢类金刚石薄膜

纳米结晶金刚石碳膜

三明治结构透明导电薄膜

三维纳米多孔石墨烯(3D-npG)薄膜

高性能的碳纳米纤维柔性薄膜

石墨烯基透明导电薄膜

球壳状连续异质结构的3D纳米多孔石墨烯(hnp-G)薄膜

聚丙烯腈纳米纤维薄膜

石墨烯/多孔碳膜

三维多孔碳膜

二维氮化硼纳米薄膜

高性能钠离子薄膜

多孔石墨烯/碳纳米管复合薄膜(PGNs-CNT)

石墨烯/二氧化锰复合薄膜

各向异性导电高分子复合薄膜

碳氮化物薄膜

微纳结构薄膜

三维阶层多孔金膜

大内径碳纳米管阵列薄膜

金纳米颗粒-碳复合材料催化剂薄膜

纳米反应器阵列薄膜

铁氧体/石墨烯基纳米复合薄膜

三维网络结构铁氧体/碳材料纳米复合薄膜

具有大孔-中孔多级孔结构的自支撑碳纳米管薄膜

非晶碳基纳米多层薄膜

离子液体/织构化类金刚石碳复合润滑薄膜

碳纳米纤维薄膜

硫化钴镍纳米棒-静电纺丝碳纳米纤维复合薄膜

金球/多壁碳管/聚苯胺薄膜

三维多孔碳纳米管/石墨烯导电网络的柔性薄膜

三维镍纳米线薄膜

超顺排碳纳米管薄膜

金属掺杂DLC(Me-DLC)纳米复合薄膜

C-TiO_2和C-Ni-TiO_2复合薄膜

碳基架负载二氧化锰纳米片的复合薄膜

超润滑非晶碳膜

网状结构碳纳米管薄膜

二维碳基薄膜

石墨烯基纳米薄膜复合材料

超级电容器柔性可弯曲薄膜

三维石墨烯/多壁碳纳米管/纳米金铂复合膜(3DGN/MWCNT/Au-PtNPs)

多孔C/TiO2纳米复合薄膜

碳包覆磷酸铁锂薄膜

WC/类金刚石(DLC)/WS2纳米复合薄膜

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薄膜的制备方法-分子束外延(MBE)

薄膜的制备方法:

薄膜是指附着在某一基体材料上起某种特殊作用,且与基体材料具有一定结合强度的薄层材料。各种块体材料都能以薄膜形态存在,大多数磁性存储器件都和磁性薄膜有关。特别是近些年来,大规模的信息和多媒体时代,各种电子信息的交换与存储要求器件存储密度更高,速度更快,消耗功率更低,尺寸更小。薄膜的发展呈现出集成化、微型化的趋势。

薄膜制备技术的一系列突破使得制备各种人工.调制结构成为可能,发展了多种制备薄膜的方法,可以制备薄膜材料的品种也越来越多。目前采用的主要方法有:磁控溅射法、离子束溅射法、脉冲激光沉积(PLD)和金属有机物化学气相沉积法(CVD)、溶胶凝胶法(Sol-Gel)、金属有机物分解法(MOD)以及分子束外延(MBE)等方法。上述制备方法中,每一种方法都有其各自的特点。

分子束外延法(Molecular Beam Epitaxy,简称MBE)

分子束外延的原理:

薄膜的制备方法-分子束外延(MBE)

分子束外延技术(Molecular Beam Epitaxy,简称MBE)是由美国 Bell实验室的卓以和博士于1970年提出来的一种薄膜生长方法,它是一种可以从原子尺寸精确控制外延层厚度、组分、界面粗糙度等参数的超薄膜制备技术,可以用于制备半导体、金属和绝缘体的单层和多层薄膜。具体来说,分子束外延技术是指在清洁的超高真空环境下,使具有一定热能的分子(或原子)的束流喷射到被加热的衬底上,在衬底表面进行反应生成单晶薄膜的过程,如图2.1所示。分子束外延自70年代至今已有30多年的历史,由于这种技术是在超高真空中生长薄膜,薄膜的厚度和组分能够精确控制,生长环境清洁,可以生长出自然界没有的新型超晶格材料,受到人们广泛的重视。在10°Pa超高真空(用离子泵、冷凝泵和升华泵)下以0.1~1nm/s 的慢沉积速率蒸发镀膜称为分子束外延。在超高真空中,分子束中的分子之间以及分子束的分子与背景分子之间儿乎不发生碰撞。最初该技术用于生长GaAs,AlGaAs 等III-V族化合物半导体,以后逐步推广,遍及I-V族,Ⅳ族等半导体薄膜,金属薄膜,超导薄膜,以及介质薄膜等,成为一种生长各种新型薄膜的技术lS7)。分子束外延的特点是参与反应的分子束“温度”和衬底温度是相对独立的,可以分别加以控制。超高真空是为了保证外延薄膜的质址,减少晶体污染和缺陷,它是指残余气体的总压力P=1.33×107Pa。

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二硫化钒VS2薄膜

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氮化碳(CNx/TiN)复合薄膜

磷掺杂的石墨相氮化碳(CNx)薄膜

硒化锗GeSe薄膜

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高质量纯相GeSe多晶薄膜

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硫化锗-硫化稼-硫化镉非晶薄膜

Li3PO4/GeS2复合固体电解质薄膜

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二维纳米二硫化钛TiS2薄膜

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CuMSe2(M=In,Ga,Ti)薄膜

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二硒化铼ReSe2薄膜

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二维SnSe和SnSe2薄膜

銅鋅錫硒(Cu2ZnSnSe4)薄膜

二硒化銅銦薄膜

硒化亚锡(SnSe)薄膜

铜锌锡硒Cu_2ZnSnSe_4(CZTSe)薄膜

Ag掺杂SnSe半导体薄膜

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二硒化钯二维晶态薄膜

二碲化钯 PdTe2薄膜

内嵌高密度钯纳米晶的介质薄膜

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钯(Ⅱ)-锌卟啉-二氧化钛三元复合配位聚合物薄膜

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钯纳米薄膜

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三碲化锆 ZrTe2薄膜

锆掺杂二氧化铪基纳米薄膜

高质量Pb(Zr0.2Ti0.8)O3薄膜

Pb(Zr,Ti)O3薄膜

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Cd1-xZnxTe多晶薄膜

二氧化锆ZrO2薄膜

二硒化钽TaSe2薄膜

二硫化钽TaS2薄膜

钽掺杂二氧化钛TiO2薄膜

二硫化钼/二硫化钨多层掺钽薄膜

纳米结构316L不锈钢基掺钽TiO_2薄膜

三硫化二铟(In2S3)薄膜

多孔三硫化二铟(In2S3)薄膜

硫化二铟(In2S3)缓冲层纳米晶薄膜

具有纳米网状结构的硫化铟纳米晶阵列薄膜

碱式硝酸铜薄膜

均匀致密的In2S3/Cu2(OH)3(NO3)复合薄膜

多孔TiO2薄膜

铜铟镓硒薄膜(CIGS)

碲化亚铁FeTe薄膜

铋碲硒Bi2Te2S薄膜

铋锑碲基热电薄膜

N型碲化铋基热电薄膜

钼钨硒MoWSe2薄膜

大尺寸WSe2薄膜

钼钨碲MoWTe2薄膜

钼硫硒MoSSe薄膜

提高柔性铜铟镓硫硒薄膜

MoO3薄膜

铋氧硒Bi2O2Se薄膜

高迁移率层状Bi2O2Se半导体薄膜

硒化铋纳米结构薄膜

c轴取向铋铜硒氧基氧化物热电薄膜

用硫酸铋制备硒化铋热电薄膜

高质量晶圆级硒氧化铋半导体单晶薄膜

氧化铋BiOx薄膜

铋铜硒氧基类单晶薄膜

铋氧碲Bi2O2Te薄膜

铋碲硒Bi2Te2Se薄膜

p-型Bi-Sb-Te-Se温差电薄膜

Bi2Te3-ySey温差电材料薄膜

铁锗碲Fe3GeTe2薄膜

大面积二维铁磁性材料Fe3GeTe2薄膜

六氰亚铁钒薄膜

室温铁磁硅锗锰半导体薄膜

BaxSr1—xTiO3铁电薄膜

含铁二氧化钛Fe^3+/TiO2复合纳米薄膜

P(VDF-TrFE)铁电薄膜

矽锗磊晶薄膜

锗-二氧化硅Ge-SiO2复合薄膜

纳米复合堆叠锌锑锗碲相变存储薄膜

含铁二氧化钛(TiO2)印迹薄膜

室温铁磁半导体Co掺杂的TiO2薄膜

(Ba,Sr)TiO3(简称BST)铁电薄膜

黑磷薄膜

铁磷硫FePS3薄膜

銅錫硒(Cu2SnSe3)薄膜

金属硒化物薄膜

銅(銦,鎵)硒及銅鋅錫硒薄膜

碘化镍NiI2薄膜

溴化镍NiBr2薄膜

碘化锰MnI2薄膜

铜钒磷硫CuVP2S6薄膜

二氧化钒智能温控薄膜

铜锑硫薄膜

CulnS2薄膜

CBD硫化铟薄膜

钒氧化物薄膜

铜铬磷硫CuCrP2S6薄膜

铜铁锡硫(CFTS)薄膜

铜铟硫光电薄膜

yyp2021.3.29

薄膜化的磁性元件相比基于块材磁芯的磁性元件具有的优势

为了磁性元件能够实现高频化与微型化,基于磁性薄膜的磁性元件在近几十年内被广泛研究。具体地,薄膜化的磁性元件相比基于块材磁芯的磁性元件至少具有以下三点优势。第一,薄膜化的磁性元件使得磁性元件实现了器件小型化、平面化,并且其制造可以通过镀膜、光刻等目前电子工业通用的工艺实现,十分有利于与其他电子元件一起集成;第二,如果磁性薄膜的膜厚小于电磁波趋肤深度,则可以大大抑制涡流损耗,进而在磁性材料的选择上,对电阻率的要求更低,相比于块材磁芯可以具有更广的材料选择范围l5';第三,相关理论表明,对于相同的磁性材料,在磁导率一定的情况下,薄膜形态相比于块材形态可以具有更高的铁磁共振频率,进而可以工作于更高的频率。以上这些优势决定了薄膜化的磁性元件是未来磁性元件发展的重要方向之一。

薄膜化的磁性元件相比基于块材磁芯的磁性元件具有的优势

对于上述薄膜化的磁性元件的研究主要集中在两个层面:第一是基于磁性薄膜的平面化器件设计,第二是研发具有优良高频性能的磁性薄膜。

对于器件设计,以薄膜电感为例,早在1984年日本大阪大学的Kawabe等人就开发出了典型的三种形态的薄膜电感,即环绕型(Hoop type)、螺旋型(Spiraltype)和折线形(Mehaider type),其制作流程及典型参数如图1所示。之后,螺旋线圈型的薄膜电感占据了主导地位,主要包括了圆形螺旋型、矩形螺旋型、六(八)边螺旋型、双矩螺旋型等一系列的结构。

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二硒化钯二维晶态薄膜

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钯/铂纳米薄膜

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单质钯薄膜/钯复合多层薄膜

钯纳米薄膜

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c轴取向铋铜硒氧基氧化物热电薄膜

用硫酸铋制备硒化铋热电薄膜

高质量晶圆级硒氧化铋半导体单晶薄膜

氧化铋BiOx薄膜

铋铜硒氧基类单晶薄膜

铋氧碲Bi2O2Te薄膜

铋碲硒Bi2Te2Se薄膜

p-型Bi-Sb-Te-Se温差电薄膜

Bi2Te3-ySey温差电材料薄膜

铁锗碲Fe3GeTe2薄膜

大面积二维铁磁性材料Fe3GeTe2薄膜

六氰亚铁钒薄膜

室温铁磁硅锗锰半导体薄膜

BaxSr1—xTiO3铁电薄膜

含铁二氧化钛Fe^3+/TiO2复合纳米薄膜

P(VDF-TrFE)铁电薄膜

矽锗磊晶薄膜

锗-二氧化硅Ge-SiO2复合薄膜

纳米复合堆叠锌锑锗碲相变存储薄膜

含铁二氧化钛(TiO2)印迹薄膜

室温铁磁半导体Co掺杂的TiO2薄膜

(Ba,Sr)TiO3(简称BST)铁电薄膜

黑磷薄膜

铁磷硫FePS3薄膜

銅錫硒(Cu2SnSe3)薄膜

金属硒化物薄膜

銅(銦,鎵)硒及銅鋅錫硒薄膜

碘化镍NiI2薄膜

溴化镍NiBr2薄膜

碘化锰MnI2薄膜

铜钒磷硫CuVP2S6薄膜

二氧化钒智能温控薄膜

铜锑硫薄膜

CulnS2薄膜

CBD硫化铟薄膜

钒氧化物薄膜

铜铬磷硫CuCrP2S6薄膜

铜铁锡硫(CFTS)薄膜

铜铟硫光电薄膜

铬-氧薄膜

铜铟硒硫薄膜

铬硅碲CrSiTe3薄膜

镍铬/铬硅钴薄膜

多元Cr-Si系硅化物薄膜

碲化镉-硅基薄膜

嵌入多纳米片的碲化铬薄膜

三价铬电沉积纳米结构镀层/薄膜

铬锗碲CrGeTe3薄膜

锗镓碲硫卤玻璃薄膜

高性能锗锑碲相变薄膜

银/铬(Cr/Ag)薄膜

铜铟磷硫CuInP2S6薄膜

铜铟硫(CuInS2,简称CIS)半导体薄膜

氯化铬CrCl3薄膜

碲化钴CoTe2薄膜

钴掺杂TiO2薄膜

银钒磷硒AgVP2Se6薄膜

银纳米薄膜

银铋硫薄膜

铬-银-金薄膜

石墨烯/银复合薄膜

银金纳米线PDMS复合薄膜

聚乙烯醇/二氧化钛(PVAmO2)纳米复合薄膜

电沉积银铟硒薄膜

冷轧钯银合金薄膜

三硫化二镓Ga2S3薄膜

FeS2复合薄膜

三硒化二镓Ga2Se3薄膜

纳米砷化镓(GaAs)薄膜

砷化镓(GaAs)纳米结构薄膜

砷化镓(GaAs)多晶薄膜

GaAs/Ga2O3复合多晶薄膜

镓铟硒GaInSe薄膜

铜铟镓硒(Cu(In,Ga)Se_2,简写GIGS)薄膜

大面积铜铟镓硒(GIGS)薄膜

磷化镓GaP薄膜

柔性铜铟镓硒(CIGS)薄膜

硫化锌(ZnS)缓冲层薄膜

镓硫碲GaSTe薄膜

基于锗镓碲硫卤玻璃薄膜

yyp2021.3.25

真空中不同温度下热处理的无Ti底层的DLC薄膜形貌的AFM像

图1示出了经真空中不同温度下热处理的无Ti底层的DLC薄膜形貌的AFM像(玻璃陶瓷基体,簿膜厚度0 24 pm).可以看出,无Ti底层的DLC 薄膜表面存在尺寸300- 800 m之间﹑高度小于100 nm的品粒凸起,同时还存在着一些细小分散相 这同文献报道的结果一致换言之,所制备的DLC薄膜由石墨碎片﹑布基葱和金刚石晶粒组成,各组分以新型共价键组成网架结构,从而使得DLC薄膜具有良好的力学性能凸起的晶粒相含有大量sp3杂化的碳原子,故其硬度比细小分散相的大,而石墨碎片分散相主要由sp’杂化的碳原子所构成当真空热处理的温度低于500℃时,凸起晶粒的尺寸几乎保持不变;随着温度继续升高,DLC薄膜发生石墨化,表面层碳的氧化加剧,薄膜致密性降低,故硬度和弹性模量降低;但当退火温度达到9o0 ℃时,薄膜中形成大量碳化钛硬化相,故硬度和弹性模量反而有所增大。

真空中不同温度下热处理的无Ti底层的DLC薄膜形貌的AFM像

                                                                         图1

a经真空500 ℃退火处理后无Ti底层的DLc簿膜的硬度﹑弹性模量和表面形貌几乎保持不变;经700 ℃退火处理后硬度和弹性模量有所降低;对于含Ti底层DLC,而经900℃退火处理后簿膜的硬度和弹性模量反而有所增大,这是由于高温退火导致形成大量碳化钛硬化相所致

b含Ti底层的DLC海膜的硬度和弹性模量比无Ti底层的DLC薄膜的低,热处理对弹性模量的影响不大;含Ti底层的DLC薄膜经真空400 ℃退火处理后,Ti易同氧结合形成TD:,从而同Ti的碳化过程形成竞争反应,因此薄膜内部同时含有To:和Tc

c无Ti底层的DLC薄膜经真空700 ℃热处理后摩擦系数保持不变;而经空气中500℃热处理后簿膜的摩擦系数明显降低,这是由于DLC簿膜在空气中热处理时更易发生石墨化所致

供应产品目录:

钛铝(铌)氮/碳化物(TiAl(Nb)N/C)薄膜

铌基超薄薄膜

离子束增强沉积铌(钛)薄膜

非晶铌金属氧化物薄膜

钒铝碳 V2AlC3薄膜

超薄二氧化钒薄膜

晶圆级二氧化钒薄膜

高性能二氧化钒薄膜

三氧化二钒纳米线薄膜

二氧化钒热致变色薄膜

碳化钒薄膜

钒配合物(VO2(3-FL))和碳纳米管复合薄膜

铬铝碳 Cr2AlC薄膜

沉积态贫铀(DU)薄膜

铝表面抗腐蚀多层有机复合薄膜

铝铟镓氮四元合金薄膜

压铸铝合金表面耐蚀性银基非晶薄膜

易降解的镀铝薄膜

顶层金属薄膜

BOPP/VMCPP型镀铝复合薄膜

铝合金表面(TixAly)N薄膜

铬掺杂碳基薄膜

流延聚丙烯蒸镀金属薄膜(MCP)

二氧化硅薄膜

氧化铝薄膜

以多孔碳为骨架的纳米铝热薄膜

氧化铟锡钽薄膜

钽基介质薄膜

铝合金表面耐蚀润滑一体化薄膜

非晶硅薄膜

多晶硅薄膜

含钽薄膜

抗氧化铀钽薄膜

掺钽铀薄膜

氮化铪薄膜

氧化铌(钽)薄膜

钽硅介质薄膜

钽铝合金薄膜

铌铝碳 Nb4AlC3薄膜

XRF聚酯薄膜

钒铝碳 V4AlC3薄膜

钼钨硫MoWS2薄膜

二硫化钼和硫化钼钨合金薄膜

含钼或钨薄膜

类石墨烯二硫化钨薄膜

二硫化钼MoS2薄膜

层状二硫化钼纳米薄膜

稀土掺杂MoS2薄膜

MoS2/C复合薄膜

Au NPs薄膜

MoS2/a-C复合薄膜

磁控溅射MoS2+Sb2O3防冷焊薄膜

单层/少层/多层二硫化钼纳米复合薄膜

C/N共掺MoS2复合薄膜

层状二硫化钼/石墨烯(MoS2/Graphene)薄膜

非平衡磁控溅射离子镀MoS2-Ti复合薄膜

自润滑薄膜二硫化钼(MoS2)和硬质耐磨薄膜氮化钛(TiN)

无机硫化物二硫化钼(MoS2)固体润滑薄膜

高质量的二硫化钼MoS2纳米多层薄膜

二硒化钼MoSe2薄膜

二维二硒化钼(MoSe2)薄膜

稀土掺杂MoSe2薄膜

铜铟镓硒薄膜

单层/少层/多层硒化钼(MoSe2)薄膜

铜锌锡硫硒薄膜

银掺杂硒化钼(MoSe2)薄膜

二碲化钼MoTe2薄膜

单晶二碲化钼(MoTe2)薄膜

单层/少层/多层二碲化钼(MoTe2)薄膜

二维二碲化钼(MoTe2)薄膜

半金属MoTe2薄膜

MoTe2及MoTe2/MoS2异质结薄膜

二维硒化钼薄膜

二硫化钨(WS2)薄膜

大面积MoS2/二硫化钨(WS2)薄膜

单层/少层/多层二硫化钨(WS2)复合薄膜

二硫化钨/钨掺杂类金刚石(WS2/W-DLC)复合薄膜

二硒化钨(WSe2)薄膜

大尺寸二硒化钨(WSe2)薄膜

二硒化钨(WSe2)半导体薄膜

单层/少层/多层二硒化钨(WSe2)薄膜

垂直基底生长硒化钨纳米片薄膜

过渡金属硫属化物薄膜电晶体

二碲化钨(WTe2)薄膜

二碲化钨(WTe2)和铋薄膜

掺杂VO2薄膜

二硫化锡SnS2薄膜

锡化亚锡SnS薄膜

硫化铋(Bi2 S3)薄膜

nO/SnS复合薄膜

CdS/CdS和CdS/Dy/CdS薄膜

可挠性P型氧化亚锡薄膜电晶体

含氧化亚锡颗粒的双轴取向聚酯薄膜

氧化亚锡多晶薄膜

二硫化锡/三硫化二锡/硫化亚锡异质结薄膜

锡硫化物薄膜

硫化亚锡(SnS)薄膜

电沉积硫化亚锡(SnS)薄膜

硫化亚锡(SnS)异质结薄膜

简易硫化亚锡(SnS)微米棒薄膜

聚苯乙烯磺酸(PEDOT:PSS)/硫化亚锡(SnS)纳米带柔性薄膜

硫化亚锡(SnS)敏化纳晶TiO2膜

六方氮化硼(HBN)薄膜

石墨烯-六方氮化硼(HBN)薄膜

Zn原位掺杂的P型六方氮化硼(HBN)薄膜

催化剂辅助化学气相生长高结晶六方氮化硼(HBN)薄膜

高储能效率铁电聚合物基电介质薄膜

三硒化二铟In2Se3薄膜

硒化铟(InSe和In2Se3)纳米薄膜

Cu(In,Ga)Se_2和Cu_2ZnSnSe_4薄膜

黄铜矿系薄膜

CuInSe2(CIS)薄膜

二硒化钼(MoS2)薄膜

大尺寸单层/多层/少层二硫化钼(MoS2)薄膜

二维硒化钼(MoS2)薄膜

二氧化钛纳米线/二硒化钼(MoS2)复合薄膜

二硒化铌NbSe2复合薄膜

二硫化钒VS2薄膜

氮化碳(CNx)薄膜

高氮含量氮化碳(C3N4)薄膜

射频磁控溅射沉积氮化碳(CNx)薄膜

氮化碳(CNx/TiN)复合薄膜

磷掺杂的石墨相氮化碳(CNx)薄膜

硒化锗GeSe薄膜

二元化合物硒化亚锗(GeSe)薄膜

高质量纯相GeSe多晶薄膜

Ge-In-Se硫系薄膜 锗-铟-硒薄膜

新型硒化锗GeSe无机薄膜

硫化锗GeS薄膜

硫化锗-硫化稼-硫化镉非晶薄膜

Li3PO4/GeS2复合固体电解质薄膜

锗复合磷酸锂固体电解质薄膜

硫化锗玻璃薄膜

硒化镓GaSe薄膜

硫化镓GaS薄膜

碘化铬CrI3薄膜

交叉状碘化氧铋纳米片薄膜

p型碘化亚铜CuI薄膜

CH3NH3PbI3多晶薄膜

玻璃纤维布负载碘氧化铋光催化薄膜

半導體碘化鉛薄膜

鈣鈦礦薄膜

二硫化钛TiS2薄膜

二维纳米二硫化钛TiS2薄膜

二硒化钛TiSe2薄膜

CulnSe2薄膜

CuMSe2(M=In,Ga,Ti)薄膜

Cu(In,Ga)Se2薄膜

二硒銅銦(鋁)薄膜

铟锗碲In2Ge2Te6薄膜

锗锑碲非晶薄膜

基于锗锑碲与IV族碲化物交替堆垛的多层相变薄膜

二硫化铼(ReS2)薄膜

大面积二维的二硫化铼(ReS2)薄膜

二硫化铼(ReS2)纳米片阵列薄膜

二硒化铼ReSe2薄膜

二硒化硒SnSe2薄膜

硒化后CZTSSe薄膜

二维SnSe和SnSe2薄膜

銅鋅錫硒(Cu2ZnSnSe4)薄膜

二硒化銅銦薄膜

硒化亚锡(SnSe)薄膜

铜锌锡硒Cu_2ZnSnSe_4(CZTSe)薄膜

Ag掺杂SnSe半导体薄膜

二硒化钯PdSe2薄膜

二硒化钯二维晶态薄膜

二碲化钯 PdTe2薄膜

内嵌高密度钯纳米晶的介质薄膜

钯/铂纳米薄膜

钯(Ⅱ)-锌卟啉-二氧化钛三元复合配位聚合物薄膜

yyp2021.3.23

三层原料树脂选择影响VMCPP薄膜铝层附着牢度的MCP薄膜

通过实践经验和理论分析:影响VMCPP薄膜铝层附着牢度的MCP薄膜生产工艺主要有:三层原料树脂选择、电晕处理效果和熟化条件。

三层原料树脂选择

三层原料树脂选用不同,对铝层的附着牢度有明显影响。对于MCP薄膜的原料树脂选用应满足低分子量物质含量少、与铝层结合好原则。低分子量物质的含量不仅仅考虑镀铝层的树脂,芯层和封合层的树脂中含有的低分子量物质也易到达镀铝层影响镀铝后铝层附着牢度。在MCP薄膜卷取时,封合层面与镀铝层面是叠在一起,封合层的低分子量物质析出后就会粘结到镀铝层面上。在镀铝层经电晕处理后,容易让芯层的低分子物质通过来到镀铝层面。当镀铝层面吸附了这些低分子量物质后,高真空蒸镀铝时铝蒸汽就很难与薄膜直接产生物理吸附。更难产生化学吸附。而只能附着在薄膜表面的低分子物质层上,这就大大减弱了铝层与薄膜间的附着牢度叫。不同的镀铝层和封合层PP原料树脂配方,在同样的流延加工和镀铝工艺条件下生产的VMPP薄膜铝层附着力见表1。

三层原料树脂选择影响VMCPP薄膜铝层附着牢度的MCP薄膜

供应产品目录:

硫化铋铜(Cu3BiS3)

钛铝碳 Ti2AlC2薄膜

类金刚石碳(DLC)薄膜

三维纳米碳薄膜

含氫非晶質碳薄膜

含氫類鑽碳薄膜

基于碳纳米材料的柔性透明导电薄膜

多晶型碳化矽薄膜

钼铝碳 Mo3AlC3薄膜

铌铝碳 Nb2AlC3薄膜

钛铝(铌)氮/碳化物(TiAl(Nb)N/C)薄膜

铌基超薄薄膜

离子束增强沉积铌(钛)薄膜

非晶铌金属氧化物薄膜

钒铝碳 V2AlC3薄膜

超薄二氧化钒薄膜

晶圆级二氧化钒薄膜

高性能二氧化钒薄膜

三氧化二钒纳米线薄膜

二氧化钒热致变色薄膜

碳化钒薄膜

钒配合物(VO2(3-FL))和碳纳米管复合薄膜

铬铝碳 Cr2AlC薄膜

沉积态贫铀(DU)薄膜

铝表面抗腐蚀多层有机复合薄膜

铝铟镓氮四元合金薄膜

压铸铝合金表面耐蚀性银基非晶薄膜

易降解的镀铝薄膜

顶层金属薄膜

BOPP/VMCPP型镀铝复合薄膜

铝合金表面(TixAly)N薄膜

铬掺杂碳基薄膜

流延聚丙烯蒸镀金属薄膜(MCP)

二氧化硅薄膜

氧化铝薄膜

以多孔碳为骨架的纳米铝热薄膜

氧化铟锡钽薄膜

钽基介质薄膜

铝合金表面耐蚀润滑一体化薄膜

非晶硅薄膜

多晶硅薄膜

含钽薄膜

抗氧化铀钽薄膜

掺钽铀薄膜

氮化铪薄膜

氧化铌(钽)薄膜

钽硅介质薄膜

钽铝合金薄膜

铌铝碳 Nb4AlC3薄膜

XRF聚酯薄膜

钒铝碳 V4AlC3薄膜

钼钨硫MoWS2薄膜

二硫化钼和硫化钼钨合金薄膜

含钼或钨薄膜

类石墨烯二硫化钨薄膜

二硫化钼MoS2薄膜

层状二硫化钼纳米薄膜

稀土掺杂MoS2薄膜

MoS2/C复合薄膜

Au NPs薄膜

MoS2/a-C复合薄膜

磁控溅射MoS2+Sb2O3防冷焊薄膜

单层/少层/多层二硫化钼纳米复合薄膜

C/N共掺MoS2复合薄膜

层状二硫化钼/石墨烯(MoS2/Graphene)薄膜

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铜锌锡硫硒薄膜

yyp2021.3.22

酞菁|分子取向对tb -酞菁薄膜磁性各向异性的影响

tb –酞菁(TbPc2)薄膜生长在25°C和150°C的玻璃衬底上。


测量并分析了TbPc2薄膜磁滞回线的温度依赖性。在25℃下生长的TbPc2薄膜的面外磁滞环和面内磁滞环几乎重叠,表明薄膜基本为磁各向同性。


相比之下,150℃生长的TbPc2薄膜表现出较强的磁各向异性,其在30 kOe时的面外磁矩比2 K时的面内磁矩大13%左右。


为了探讨分子堆叠结构与TbPc2薄膜磁性能之间的相互关系,采用x射线衍射仪和掠射广角x射线散射对TbPc2薄膜的晶体结构进行表征。


结果表明,25℃生长的TbPc2薄膜几乎是无定形的。而在150℃下生长的TbPc2薄膜则呈现出清晰的晶体织构。


从理论上分析了分子取向与磁性能之间的关系。


考虑TbPc2分子的磁性各向异性轴,以及两种薄膜的面外磁环和面内磁环,可以得出TbPc2分子在150°C玻璃基板上倾向于平铺靠近基板表面。


酞菁|分子取向对tb -酞菁薄膜磁性各向异性的影响

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酞菁|分子取向对tb -酞菁薄膜磁性各向异性的影响

上海金畔生物科技有限公司是国内光电材料,纳米材料,聚合物;化学试剂供应商;专业于科研试剂的研发生产销售。供应有机发光材料(聚集诱导发光材料)和发光探针(磷脂探针和酶探针)、碳量子点、金属纳米簇;嵌段共聚物等一系列产品。

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tb –酞菁(TbPc2)薄膜生长在25°C和150°C的玻璃衬底上。


测量并分析了TbPc2薄膜磁滞回线的温度依赖性。在25℃下生长的TbPc2薄膜的面外磁滞环和面内磁滞环几乎重叠,表明薄膜基本为磁各向同性。


相比之下,150℃生长的TbPc2薄膜表现出较强的磁各向异性,其在30 kOe时的面外磁矩比2 K时的面内磁矩大13%左右。


为了探讨分子堆叠结构与TbPc2薄膜磁性能之间的相互关系,采用x射线衍射仪和掠射广角x射线散射对TbPc2薄膜的晶体结构进行表征。


结果表明,25℃生长的TbPc2薄膜几乎是无定形的。而在150℃下生长的TbPc2薄膜则呈现出清晰的晶体织构。


从理论上分析了分子取向与磁性能之间的关系。


考虑TbPc2分子的磁性各向异性轴,以及两种薄膜的面外磁环和面内磁环,可以得出TbPc2分子在150°C玻璃基板上倾向于平铺靠近基板表面。


酞菁|分子取向对tb -酞菁薄膜磁性各向异性的影响

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酞菁|酞菁镍薄膜的磁电特性及其在有机太阳能电池中的应用

酞菁镍(NiPc)薄膜的磁导和光电性能。NiPc薄膜的表面形貌和光电性能在聚合物太阳能电池中有很好的应用前景。AFM图像显示了研究区域上几乎连续的表面。


从薄膜的磁导特性出发,讨论了自旋相互作用、自旋部分的无序性及其合适的模型。用阻抗谱方法讨论了偏压作用下载流子的弛豫时间和陷阱填充现象。


将NiPc薄膜作为空穴界面缓冲层引入P3HT: PCBM太阳能电池的标准结构中。


使用NiPc优化后的太阳能电池的功率转换效率(PCE)为~ 3.17%,填充系数(FF)为~ 69%。,这些器件参数(PCE增加了约65%,FF增加了约39%)比同一批次无NiPc薄膜的有机太阳能电池高。


降低了串联电阻和分流电阻,提高了有机太阳能电池的性能。

酞菁|酞菁镍薄膜的磁电特性及其在有机太阳能电池中的应用

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酞菁|酞菁镍薄膜的磁电特性及其在有机太阳能电池中的应用

酞菁镍(NiPc)薄膜的磁导和光电性能。NiPc薄膜的表面形貌和光电性能在聚合物太阳能电池中有很好的应用前景。AFM图像显示了研究区域上几乎连续的表面。


从薄膜的磁导特性出发,讨论了自旋相互作用、自旋部分的无序性及其合适的模型。用阻抗谱方法讨论了偏压作用下载流子的弛豫时间和陷阱填充现象。


将NiPc薄膜作为空穴界面缓冲层引入P3HT: PCBM太阳能电池的标准结构中。


使用NiPc优化后的太阳能电池的功率转换效率(PCE)为~ 3.17%,填充系数(FF)为~ 69%。,这些器件参数(PCE增加了约65%,FF增加了约39%)比同一批次无NiPc薄膜的有机太阳能电池高。


降低了串联电阻和分流电阻,提高了有机太阳能电池的性能。

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光电材料|室温脉冲激光原位热处理技术的研究:如何在不硫化的情况下改善Cu2ZnSnS4薄膜的光电性能

超硫化是合成季硫族化合物不可缺少的工艺吗?对于大多数抑制过多硫空位的合成方法来说,答案可能是肯定的。脉冲激光沉积(PLD)是一种公认的制备复杂化学计量学薄膜的技术,是制备Cu2ZnSnS4 (CZTS)薄膜的一种很好的替代方法。


然而,为了防止蒸发损失,沉积温度(Tis)必须限制在400°C以下,这使得后退火工艺对改善亚稳态膜极为必要。在此,我们开发了一种室温(RT)- pld -合成CZTS薄膜的原位热处理技术,以避免额外的硫化过程。


根据多峰高斯拟合分析,RT-PLD实施优化的原位处理可以拓宽CZTS薄膜的太阳吸收,这可能是由于I2-II-IV-VI4硫族化合物固有的天然中带效应所导致的子带隙吸收。


稳定时安培表征与准化学计量比相结合,证明RT-PLD技术即使不硫化也能等效地抑制硫空位的产生。原位处理过程中多晶CZTS有序-无序转变的物理机制可以解释随Tis变化而发生的形态“块-光滑-孔洞”转变。


因此,所提出的RT-PLD技术适用于制备具有挥发性元素和复杂化学计量比的多元化合物。

光电材料|室温脉冲激光原位热处理技术的研究:如何在不硫化的情况下改善Cu2ZnSnS4薄膜的光电性能

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光电材料|室温脉冲激光原位热处理技术的研究:如何在不硫化的情况下改善Cu2ZnSnS4薄膜的光电性能

超硫化是合成季硫族化合物不可缺少的工艺吗?对于大多数抑制过多硫空位的合成方法来说,答案可能是肯定的。脉冲激光沉积(PLD)是一种公认的制备复杂化学计量学薄膜的技术,是制备Cu2ZnSnS4 (CZTS)薄膜的一种很好的替代方法。


然而,为了防止蒸发损失,沉积温度(Tis)必须限制在400°C以下,这使得后退火工艺对改善亚稳态膜极为必要。在此,我们开发了一种室温(RT)- pld -合成CZTS薄膜的原位热处理技术,以避免额外的硫化过程。


根据多峰高斯拟合分析,RT-PLD实施优化的原位处理可以拓宽CZTS薄膜的太阳吸收,这可能是由于I2-II-IV-VI4硫族化合物固有的天然中带效应所导致的子带隙吸收。


稳定时安培表征与准化学计量比相结合,证明RT-PLD技术即使不硫化也能等效地抑制硫空位的产生。原位处理过程中多晶CZTS有序-无序转变的物理机制可以解释随Tis变化而发生的形态“块-光滑-孔洞”转变。


因此,所提出的RT-PLD技术适用于制备具有挥发性元素和复杂化学计量比的多元化合物。

光电材料|室温脉冲激光原位热处理技术的研究:如何在不硫化的情况下改善Cu2ZnSnS4薄膜的光电性能

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硅量子点掺杂二氧化钛薄膜复合材料(TiO2/SiQDs)的制备方法|

产品名称:硅量子点掺杂二氧化钛薄膜复合材料

简称:TiO2/SiQDs

纯度:98%

包装:mg级和g级

货期: 一周

地址:上海

厂家:上海金畔生物科技有限公司

硅量子点掺杂二氧化钛薄膜复合材料(TiO2/SiQDs)的制备方法该方法过程步骤包括:

制备一、将基片和靶材清洗置入溅射室内,在真空和氩气的保护条件下,预溅射清洗

步骤二、以一定的引出电流、电压的氩离子束对二氧化钛进行溅射,在基片上沉积二氧化钛薄膜

步骤三、经退火后,得到纳米二氧化钛薄膜再以一定的能量、注入剂量进行三次硅离子的注入,得到硅掺杂的二氧化钛薄膜经退火后,得到硅量子点掺杂的纳米二氧化钛薄膜。

硅量子点掺杂二氧化钛薄膜复合材料(TiO2/SiQDs)的制备方法|

1为实例1制备的硅量子点掺杂的纳米二氧化钛薄膜复合材料透射形貌照片。

本制备方法的优点在于方法简单条件温和过程中能通过调节离子注入工艺来自由调节硅量子点的含量、尺寸、形态及分布并且克服了量子点时易团聚的缺点从而调节了掺杂的二氧化钛薄膜的光吸收特性。

上海金畔生物科技有限公司可以对各种材质的荧光量子点进行修饰和改性以及偶联和特殊定制,我们可以做各种聚合物修饰,多糖修饰,蛋白修饰以及复合类产品的量子点复杂定制。

烯丙胺修饰硅量子点(Si QDs)

氨基功能化硅量子点(Si QDs)

水溶性绿色荧光硅量子点

蓝绿荧光的水溶性硅量子点

硼掺杂氮化硅基硅量子点

磷掺杂硅量子点(Si QDs)

硼掺杂硅量子点(Si QDs)

碳包覆硅量子点(Si QDs)

硅量子点-金复合纳米粒子复合材料

硅量子点掺杂二氧化钛纳米复合材料(TiO2/SiQDs)

光电材料|用于红外光电探测的柱状te掺杂pbse玻璃薄膜

采用射频磁控溅射技术,在不同溅射功率下,在非晶玻璃衬底上制备了柱状结构的te掺杂pbse薄膜。


研究了溅射功率对薄膜结构和光电性能的影响。随着溅射功率从60 W增加到140 W,薄膜的择优取向从(200)转移到(111)。


光学表征表明,在近红外和中红外区吸收是有效的。


光电测试结果表明,碲掺杂pbse薄膜在红外光照射下具有快速稳定的光响应。


基于该薄膜的光敏电阻器件在反复的红外光开、关循环下表现出良好的灵敏度。


薄膜的电阻变化率超过13%,较高的溅射功率产生较好的灵敏度。

光电材料|用于红外光电探测的柱状te掺杂pbse玻璃薄膜

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光电材料|用于红外光电探测的柱状te掺杂pbse玻璃薄膜

上海金畔生物科技有限公司是国内光电材料,纳米材料,聚合物;化学试剂供应商;专业于科研试剂的研发生产销售。供应有机发光材料(聚集诱导发光材料)和发光探针(磷脂探针和酶探针)、碳量子点、金属纳米簇;嵌段共聚物等一系列产品。

光电材料|用于红外光电探测的柱状te掺杂pbse玻璃薄膜

采用射频磁控溅射技术,在不同溅射功率下,在非晶玻璃衬底上制备了柱状结构的te掺杂pbse薄膜。


研究了溅射功率对薄膜结构和光电性能的影响。随着溅射功率从60 W增加到140 W,薄膜的择优取向从(200)转移到(111)。


光学表征表明,在近红外和中红外区吸收是有效的。


光电测试结果表明,碲掺杂pbse薄膜在红外光照射下具有快速稳定的光响应。


基于该薄膜的光敏电阻器件在反复的红外光开、关循环下表现出良好的灵敏度。


薄膜的电阻变化率超过13%,较高的溅射功率产生较好的灵敏度。

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上海金畔生物科技有限公司是国内光电材料,纳米材料,聚合物;化学试剂供应商;专业于科研试剂的研发生产销售。供应有机发光材料(聚集诱导发光材料)和发光探针(磷脂探针和酶探针)、碳量子点、金属纳米簇;嵌段共聚物等一系列产品。sjl2022/02/18

光电材料|硒化温度对铁离子掺杂Cu(In,Ga)Se2薄膜太阳电池显微结构和光电性能的影响

Cu(In,Ga)Se2 (CIGS)薄膜是通过非真空旋涂工艺,然后在450 °C至575 °C的温度下硒化,在钼涂层的柔性不锈钢衬底上制备的。


研究了硒化温度和铁离子浓度对CIGS太阳能电池光电性能的影响。所有的x射线衍射(XRD)谱图与CIGS相相匹配。随着硒化温度的升高,未掺杂CIGS薄膜的衍射峰强度增大。


但随着硒化温度的升高,铁离子掺杂CIGS薄膜的XRD峰强度降低,这是由于铁离子掺杂后CIGS薄膜的热稳定性下降所致。随着硒化温度的升高,CIGS薄膜中颗粒尺寸增大,薄膜表面呈扁平状致密化。


在450 °C条件下制备的CIGS太阳能电池的Voc、Jsc和填充系数分别为0.401 V、21.84 mA/cm2和41.12%。这些参数随着硒化温度的升高而增强,这是由于CIGS结晶度的提高和微观结构的致密化。


但铁离子掺杂会在高温下扩散到吸收层中,导致光电性能恶化。研究表明,铁离子掺杂对CIGS太阳能电池的光电性能和微结构产生了不利影响。

光电材料|硒化温度对铁离子掺杂Cu(In,Ga)Se2薄膜太阳电池显微结构和光电性能的影响

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光电材料|硒化温度对铁离子掺杂Cu(In,Ga)Se2薄膜太阳电池显微结构和光电性能的影响

Cu(In,Ga)Se2 (CIGS)薄膜是通过非真空旋涂工艺,然后在450 °C至575 °C的温度下硒化,在钼涂层的柔性不锈钢衬底上制备的。


研究了硒化温度和铁离子浓度对CIGS太阳能电池光电性能的影响。所有的x射线衍射(XRD)谱图与CIGS相相匹配。随着硒化温度的升高,未掺杂CIGS薄膜的衍射峰强度增大。


但随着硒化温度的升高,铁离子掺杂CIGS薄膜的XRD峰强度降低,这是由于铁离子掺杂后CIGS薄膜的热稳定性下降所致。随着硒化温度的升高,CIGS薄膜中颗粒尺寸增大,薄膜表面呈扁平状致密化。


在450 °C条件下制备的CIGS太阳能电池的Voc、Jsc和填充系数分别为0.401 V、21.84 mA/cm2和41.12%。这些参数随着硒化温度的升高而增强,这是由于CIGS结晶度的提高和微观结构的致密化。


但铁离子掺杂会在高温下扩散到吸收层中,导致光电性能恶化。研究表明,铁离子掺杂对CIGS太阳能电池的光电性能和微结构产生了不利影响。

光电材料|硒化温度对铁离子掺杂Cu(In,Ga)Se2薄膜太阳电池显微结构和光电性能的影响

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光电材料|硒化温度对铁离子掺杂Cu(In,Ga)Se2薄膜太阳电池显微结构和光电性能的影响

上海金畔生物科技有限公司是国内光电材料,纳米材料,聚合物;化学试剂供应商;专业于科研试剂的研发生产销售。供应有机发光材料(聚集诱导发光材料)和发光探针(磷脂探针和酶探针)、碳量子点、金属纳米簇;嵌段共聚物等一系列产品。sjl2022/02/17

P型阶梯掺杂4H-SiC多层薄膜同质外延的技术方法

P型阶梯掺杂4H-SiC多层薄膜同质外延的技术方法

 

上海金畔生物科技有限公司提供各种进口或者国产的薄膜,尺寸可定制;各种基底的薄膜;品质高;有关技术资料欢迎咨询。同时提供各种二维材料;石墨烯、氮化硼、二硫化钼、CVD生长的薄膜、晶体、异质结、薄膜(蓝宝石、PET、铜膜、石英、云母、银膜、SOI基底、Si玻璃基底)等材料。

 

4HSiC4H-SiC产品描述:

六方结构的4HSiC4H-SiC)具有高临界击穿电场、高电子迁移率的优势,是制造高压、高温、抗辐照功率半导体器件的优良半导体材料,也是目前综合性能比较好、商品化程度高、技术成熟的第三代半导体材料

 

P型阶梯掺杂4H-SiC多层薄膜同质外延的基本信息

产品名称

P型阶梯掺杂4H-SiC多层薄膜同质外延

产品名称:

4H-SiC上镀4H-SiC薄膜P

常规尺寸:

dia4" ±0.5 mm  x 0.525 ±0.025 mm

4H-SiC薄膜厚度:

4.3um ±10%

4H-SiC薄膜厚度:

1.4E17/cc +0% /- 30%

载流子浓度:

(3~ 10)E16 /cc

导电类型:

P型

抛光情况:

双面抛光

4H-SiC基片尺寸:

dia 2 inch x330±25un

4H-SiC基片电阻率:

< 0.03 ohm-cm

4H-SiC抛光:

Si面CMP单抛

标准包装

超净袋真空包装或单片盒装

生产厂家

上海金畔生物科技有限公司

 

 

SiC外延膜实物图:

P型阶梯掺杂4H-SiC多层薄膜同质外延的技术方法

碳化硼SiC的外延生长的方法包括以下几种

1)化学气相淀积CVD:(分为CVDHTCVD高温两种)

2)升华或物理气相传输法PVT(分为Lely熔法/LETI和升华三明治法)

3)分子束外延MBE

4)液相外延LPE:(又包含Si溶剂和其他溶剂两种)

P型阶梯掺杂4H-SiC多层薄膜同质外延的技术方法

 

化学气相淀积CVD法是制造先进外延结构的方法。反应器中的压力可以通过气体产生,低压化学气相淀积LPCVD,压力为10~1000mbar,低压可以减小气相成核,SiC一般使用较为广泛。这种方法的产量非常高。外延生长过程中,气相SiC的比例会影响生长速率、外延层的质量以及杂质的掺入,CVD的一个优势便是可以在生长过程中很好地控制Si/C比。目前,对于SiC外延层仍然存在各种缺陷,从而对器件特性造成影响,所以针对SiC的外延生长工艺需要进行不断的优化,同时整个SiC器件的生产工艺以及设备也是后期不断关注的话题。

 

P型阶梯掺杂4H-SiC多层薄膜同质外延的技术方法

 

上海金畔生物供应薄膜产品列表

Ag膜

ITO膜

Si3N4膜

Al膜

InAlAs膜

SOS膜

AlN膜

InGaAs膜

SOI膜

Au膜

InGaP膜

SiC 4H 膜P型

AlGaN膜

ITO+ZnO

SiC 3C膜

BN氮化硼薄膜

La0.7Sr0.3MnO3/Pb0.19Zr0.2Ti0.8O3

SiO2膜

Ba1-xSrxTiO3膜

La0.7Sr0.3MnO3/ PbZr(x)Ti(1-x)O3

SrTiO3膜

BiFeO3膜

SiO2+Pt 薄膜

YBCO膜

Cu铜膜

SrMoO4薄膜

YIG膜

CeO2膜

LaFeO3膜

ZnO膜

Diamond金刚石膜

LaNiO3膜

掺杂ZnO膜

FTO导电膜

La1-xSrxMnO3膜

SrRuO3薄膜

GOI膜

La1-xSrxTiO3膜

TiO2薄膜

GaAs膜

La2Zr2O7膜

ZnO/Au/Cr薄膜

GaN膜

Mo膜

ZnO/SiO2复合薄膜

Ga2O3-ß膜

MoS2膜

ZnO/钠钙玻璃薄膜

Ge膜

Ni膜

ZnO/Pt/T复合薄膜

Graphene石墨烯

Pt膜

Ag膜

ITO膜

Si3N4膜

Al膜

InAlAs膜

SOS膜

AlN膜

InGaAs膜

SOI膜

 

5um导电形状记忆薄膜的制备方法

本发明专利技术公开一种导电形状记忆薄膜、制备方法及其电驱动方法,具体包括:

步骤S1:使热塑性形状记忆聚合物完全溶解于氯仿溶剂得到静电纺丝溶液;

步骤S2:将静电纺丝溶液进行静电纺丝,静电纺丝得到的形状记忆聚合物纤维堆积形成形状记忆聚合物纤维薄膜;

步骤S3:将三氯化铁粉末与溶剂混合,得到三氯化铁溶液;

步骤S4:形状记忆聚合物纤维薄膜浸泡于三氯化铁溶液中,一段时间后取出室温下烘干;

步骤S5:将烘干的形状记忆聚合物纤维薄膜悬挂在滴加导电聚合物单体试剂的容器中,一段时间后得到导电形状记忆薄膜。与现有技术比较,本方案实现导电聚合物与形状记忆聚合物在微观层面的稳定结合,制备成本低、制备方法简单。

5um导电形状记忆薄膜的制备方法

上海金畔生物供应各种二维薄膜产品,产品目录如下:

SrTiO3+YBCO超导薄膜,10*10*0.5mm

PLGA多孔静电纺丝纤维膜载药定制

三维多孔纳米PLA纤维膜-载阿霉素

PLA载药纳米纤维膜-载紫杉醇

静电纺载药PCL纳米纤维膜-载药定制

载有布比卡因的PCL纳米纤维

三维多孔纳米PCL纤维膜-载阿霉素

PCL载药纳米纤维膜-载紫杉醇

静电纺载药PLGA纳米纤维膜-载药定制

PLGA载药纳米纤维膜定制

载有布比卡因的PLGA纳米纤维

三维多孔纳米PLGA纤维膜-载阿霉素

PLGA载药纳米纤维膜-载紫杉醇

PCL纤维膜载药定制

PLA纤维膜载药定制

PLGA纤维膜载药定制

红色荧光PCL纤维膜

绿色荧光PCL纤维膜

红色荧光PLGA纤维膜

绿色荧光PLGA纤维膜

红色荧光PLA聚乳酸纤维膜

绿色荧光PLA聚乳酸纤维膜

PS聚苯乙烯纤维膜

PSF聚砜纤维膜

PAN聚丙烯腈纤维膜

PVDF聚偏氟乙烯纤维膜

PEO聚氧化乙烯纤维膜

Gel明胶纤维膜

PVP聚乙烯吡咯烷酮纤维膜

PVA聚乙烯醇纤维膜

PLGA聚乙酸-羟基乙酸共聚物纤维膜

PCL聚乙内脂纤维膜

PLA聚乳酸纤维膜

SrMoO4薄膜 光致发光薄膜

ZnO+Pt+Ti薄膜

SiO2/Pt薄膜

ZnO+钠钙玻璃薄膜

ZnO+SiO2薄膜

ITO+ZnO薄膜

二氧化钛TiO2薄膜

GaAs InGaP薄膜

SrRuO3薄膜

InP上镀InAlAs薄膜

掺杂ZnO薄膜

InP上镀InAlAs薄膜

光电材料|ZnO量子点薄膜作为有前途的电子输运层:表面体积比对光电性能的影响

采用低温溶剂热法制备了平均粒径为4.4 nm的ZnO量子点。


以ZnO QD溶液为原料,采用旋转镀膜技术制备了光电材料ZnO QD薄膜,并分别在250、350和450℃退火。随着退火温度升高至450℃,ZnO的平均晶粒尺寸和能带隙分别由5.5 ~ 22.9 nm和3.37 ~ 3.27 eV增大和减小。


光致发光分析表明,包覆光电材料ZnO薄膜和250℃退火的ZnO薄膜中存在高密度的氧空位;这些缺陷在温度升高到350和450°C时减少。


薄膜的光电性能受晶粒尺寸和薄膜中缺陷的影响较大。随着温度升高到450℃,光暗电流比(PDCR)从3723降低到371%,而响应率从1.25增加到218 mA/W。


as涂层和250°c退火的薄膜由于其更大的表面与体积比,在PDCR、上升时间和下降时间方面具有更好的光响应,使其成为钙钛矿太阳能电池中的电子传输层。

光电材料|ZnO量子点薄膜作为有前途的电子输运层:表面体积比对光电性能的影响

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光电材料|ZnO量子点薄膜作为有前途的电子输运层:表面体积比对光电性能的影响

上海金畔生物科技有限公司是国内光电材料,纳米材料,聚合物;化学试剂供应商;专业于科研试剂的研发生产销售。供应有机发光材料(聚集诱导发光材料)和发光探针(磷脂探针和酶探针)、碳量子点、金属纳米簇;嵌段共聚物等一系列产品。